中科院上海微系統與信息技術研究所中科院杭州射頻識別技術研發中心建設的RFID綜合測試平臺于2011年11月在杭州正式建成投入使用，該平臺由天線測試系統、RFID標簽、閱讀器測試與射頻系統測試三大部分組成，可滿足RFID硬件開發的各項測試需求。作為目前浙江省唯一的RFID測試平臺，也是華東地區規模最大、功能最齊全的RFID測試平臺，它的建成具有重要意義。

　　射頻識別技術（RFID）是物聯網的關鍵技術之一，同時具有良好的產業基礎和廣闊的市場前景。研究顯示，2011年全球RFID市場規模可達148億美元，未來五年將繼續保持高速增長，而中國將成為全球最大的RFID市場。由于RFID技術應用的擴展，相關RFID企業必然有擴展產品和技術領域的需求，RFID綜合測試平臺主要解決HF、UHF和RF頻段的RFID產品在研發和應用中的測試技術問題，為相關企業的研發和生產服務，帶動區域RFID產業的提升，有利于提高杭州在全國物聯網行業的標桿作用，引領物聯網相關先進測試技術發展。

　　RFID綜合測試平臺具有鮮明的特色和優勢：天線測試平臺引進法國近場球面掃描系統，頻率覆蓋400 MHz-6 GHz。可滿足：天線增益、波束寬度、旁瓣幅度、天線效率以及一維、二維和三維輻射方向圖和任意極化方式的方向圖，同時滿足TRP，TIS，EIRP，EIS等測試指標。

　　射頻識別（RFID）標簽及閱讀器測試系統主要基于NI-VISN-100 RFID/NFC綜測儀，能夠精確、快速的對標簽和閱讀器進行測試。支持的RFID測試協議：ISO18000-6B和ISO18000-6C/EPC UHF Class1 Gen2。具有標簽與讀卡器一致性測試、標簽與讀卡器性能測試、標簽與讀卡器的互操作性測試的能力。

　　射頻測試平臺由德國Rohde&Schwarz公司的FSVR7實時頻譜分析儀、SMBV100A矢量信號源和ZVB8矢量網絡分析儀儀器組成，可解決射頻元件與模塊的測試問題，提供完整的射頻參數測試服務。

　　結合實際需求，杭州中心將積極創新，自主研發，不斷提升RFID及相關測試技術水平，加強企業合作，為推動杭州物聯網產業的發展做出應有貢獻，并積極為上海微系統所”十二.五”戰略目標服務，推動寬帶無線傳感網技術發展。

天線測試平臺

射頻識別（RFID）標簽及閱讀器測試系統1

射頻識別（RFID）標簽及閱讀器測試系統2